时间延迟积分X射线成像系统
时间延迟积分X射线成像系统

TDI-100A

时间延迟积分X射线成像系统

时间延迟积分(TDI)技术是一种类似线阵扫描的成像技术,TDI-100A系统通过时间延迟积分的方法,大大增加了光能的收集,较普通的线阵扫描而言,它具有更高的灵敏度、响应度高、动态范围宽等优点,允许在非常低的光照条件下,或对于高速移动的物体,获得高质量的图像。TDI-100A系统适用于需要高速操作和高灵敏度同时进行的广泛成像应用。
产品特点
  • 线扫动态成像

  • 高成像精度

  • 低辐射剂量

  • 高信噪比

  • 低成本

应用范围
    • 军工制造

    • 芯片检测

    • 出入境物流

  •  

    TDI-100成像效果展示

仪器参数
 
芯片类型 背照式科学级 CMOS TDI
成像宽度 20 cm
TDI 级数 256级TDI
空间分辨率 >15 lp/mm
能量范围 20 keV ~ 300 keV
动态范围 69 dB @ 12 bit
最大线速 510 kHz
位深 12 bit
传输接口 CoaxPress 2.0
触发模式 触发、扫描方向输入
SDK C,C++,C#
兼容系统 Windows/Linux
尺寸 1070 mm× 940 mm × 1267 mm
资料下载
  • TDI-100A_时间延迟积分X射线成像系统.pdf

    大小:2.8 MB

    立即查看  
获取报价